Η αναζήτηση επέστρεψε 12 αποτελέσματα.

Αποτελέσματα
	1.	Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization [electronic resource] by Erik Larsson από Larsson, Erik Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 29 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer 2005 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	2.	Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits [electronic resource] by Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua, Satyabroto Sinha από Kabisatpathy, Prithviraj Barua, Alok Sinha, Satyabroto Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 30 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer 2005 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	3.	Data Mining and Diagnosing IC Fails [electronic resource] by Leendert M. Huisman από Huisman, Leendert M Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 31 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer Science+Business Media, Inc. 2005 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	4.	Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting [electronic resource] edited by Dimitris Gizopoulos από Gizopoulos, Dimitris Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 27 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer 2006 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	5.	Digital Timing Measurements [electronic resource] From Scopes and Probes to Timing and Jitter by Wolfgang Maichen από Maichen, Wolfgang Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 33 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer 2006 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	6.	The Core Test Wrapper Handbook [electronic resource] Rationale and Application of IEEE Std. 1500β' by Francisco Silva, Teresa McLaurin, Tom Waayers από Silva, Francisco McLaurin, Teresa Waayers, Tom Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 35 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer Science+Business Media, LLC 2006 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	7.	Models in Hardware Testing [electronic resource] Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault edited by Hans-Joachim Wunderlich από Wunderlich, Hans-Joachim SpringerLink (Online service) Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 43 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Dordrecht Springer Science+Business Media B.V. 2010 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	8.	Introduction to ID̳D̳Q̳ testing / by Sreejit Chakravarty and Paul J. Thadikaran. από Chakravarty, Sreejit [συγγραφέας.] Thadikaran, Paul J [συγγραφέας.] Σειρά: Frontiers in electronic testing Τύπος υλικού: Κείμενο; Διάταξη: έντυπο ; Λογοτεχνικό είδος: Μη λογοτεχνικό Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston : Kluwer Academic Publishers, c1997 Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1)Ταξιθετικός αριθμός: 621.395 028 7 CHA. Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	9.	Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits από Sachdev, Manoj [aut] Σειρά: Frontiers in Electronic Testing / Vishwani D. Agrawal Τύπος υλικού: Κείμενο; Διάταξη: έντυπο Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston Kluwer Academic Publishers c1998 Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1)Ταξιθετικός αριθμός: 621.395 SAC. Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	10.	IDDQ testing of VLSI circuits / edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins. από Gulati, Ravi K [επιμελητής] Hawkins, Charles F [επιμελητής] Σειρά: Frontiers in electronic testing Έκδοση: 5th print. Τύπος υλικού: Κείμενο; Διάταξη: έντυπο Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1997, c1993 Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1)Ταξιθετικός αριθμός: 621.395 IDD. Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	11.	Testing and testable design of high-density random-access memories / by Pinaki Mazumder and Kanad Chakraborty. από Mazumder, Pinaki [συγγραφέας.] Chakraborty, Kanad [συγγραφέας.] Σειρά: Frontiers in electronic testing Τύπος υλικού: Κείμενο; Διάταξη: έντυπο ; Λογοτεχνικό είδος: Μη λογοτεχνικό Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, Mass : Kluwer Academic, 1996 Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1)Ταξιθετικός αριθμός: 621.397 32 MAZ. Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	12.	Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal. από Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- [συγγραφέας.] Agrawal, Vishwani D, 1943- [συγγραφέας.] Σειρά: Τύπος υλικού: Κείμενο; Διάταξη: έντυπο ; Λογοτεχνικό είδος: Μη λογοτεχνικό Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston : Kluwer Academic, c2000 Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1)Ταξιθετικός αριθμός: 621.395 BUS. Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)