Εξώφυλλο από Amazon.com
IDDQ testing of VLSI circuits / edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins.
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΣειρά: Frontiers in electronic testingΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1997, c1993.Έκδοση: 5th printΠεριγραφή: 170 σ. : εικ. ; 27 εκISBN: - 0792393155
- 621.39/5
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [21]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-yes.png "Book [21]")
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 IDD (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000282246 |
"A Special issue of Journal of electronic testing: theory and applications."
"Reprinted from Journal of electronic testing: theory and applications, vol. 3, no. 4."
Το DDQ είναι σε μορφή δείκτη στο IDDQ του τίτλου.
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
