Εξώφυλλο από Amazon.com
Data Mining and Diagnosing IC Fails [electronic resource] by Leendert M. Huisman
Τύπος υλικού:
ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 31Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer Science+Business Media, Inc. 2005Περιγραφή: v.: digitalISBN: - 9780387263519
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource
|
ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |
