Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Frontiers in Electronic Testing / Vishwani D. AgrawalΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston Kluwer Academic Publishers c1998Περιγραφή: xiv,308p. figISBN:

Θέμα(τα):

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Συλλογή	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
Book [21]	ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10	Non-fiction	621.395 SAC (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο		025000281864

includes bibl. references

Κοινοποίηση