Instrumentation and measurement technology and applications Emil M. Petriu, editor

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: IEEE technology update seriesΛεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Institute of Electrical and Electronics Engineers 1998Περιγραφή: xx, 521 p. fig., tab., phot. 29 cmISBN:

Θέμα(τα):

Ταξινόμηση DDC:

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
Book [21]	ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή	620.004 4 P (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο		025000078412

A collection of selected papers from recent IEEE conferences

Includes bibliographical references and index

Κοινοποίηση