Η αναζήτηση επέστρεψε 7 αποτελέσματα.

Αποτελέσματα
	1.	Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization [electronic resource] by Erik Larsson από Larsson, Erik Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 29 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer 2005 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	2.	Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits [electronic resource] by Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua, Satyabroto Sinha από Kabisatpathy, Prithviraj Barua, Alok Sinha, Satyabroto Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 30 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer 2005 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	3.	Data Mining and Diagnosing IC Fails [electronic resource] by Leendert M. Huisman από Huisman, Leendert M Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 31 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer Science+Business Media, Inc. 2005 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	4.	Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting [electronic resource] edited by Dimitris Gizopoulos από Gizopoulos, Dimitris Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 27 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer 2006 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	5.	Digital Timing Measurements [electronic resource] From Scopes and Probes to Timing and Jitter by Wolfgang Maichen από Maichen, Wolfgang Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 33 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer 2006 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	6.	The Core Test Wrapper Handbook [electronic resource] Rationale and Application of IEEE Std. 1500β' by Francisco Silva, Teresa McLaurin, Tom Waayers από Silva, Francisco McLaurin, Teresa Waayers, Tom Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 35 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer Science+Business Media, LLC 2006 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	7.	Models in Hardware Testing [electronic resource] Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault edited by Hans-Joachim Wunderlich από Wunderlich, Hans-Joachim SpringerLink (Online service) Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 43 Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Dordrecht Springer Science+Business Media B.V. 2010 Ηλεκτρονική πρόσβαση: Επιλέξτε για διαδικτυακή πρόσβαση Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1). Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)

Πανεπιστήμιο Πατρών, Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης, 265 04, Πάτρα
Τηλ: 2610969621, Φόρμα επικοινωνίας