Εικόνα εξωφύλλου από Amazon
Εξώφυλλο από Amazon.com
Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Θεμελιώδεις έννοιες της επεξεργασίας σημάτων / James H. McClellan, Ronald W. Schafer, Mark A. Yoder ; μετάφραση-επιστημονική επιμέλεια Εμμανουήλ Ζ. Ψαράκης.

Κατά: Συντελεστής(ές): Τύπος υλικού: ΚείμενοΚείμενοΓλώσσα: Greek, Modern (1453- ) Original language: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Πάτρα : Gotsis, c2019. Έκδοση: 2η έκδΠεριγραφή: xx, 499 σ. : εικ. ; 22 εκ. + 1 CDISBN:
  • 9789609427852
Θέμα(τα): Ταξινόμηση DDC:
  • 621.382 2 23
Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου Τρέχουσα βιβλιοθήκη Ταξιθετικός αριθμός Αριθμός αντιτύπου Κατάσταση Ημερομηνία λήξης Ραβδοκώδικας
Book [21] Book [21] ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή 621.382 2 McC (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) 1 Διαθέσιμο 025000277782
Book [21] Book [21] ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή 621.382 2 McC (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) 2 Διαθέσιμο 025000277783

Περιλαμβάνει ευρετήριο.

Πανεπιστήμιο Πατρών, Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης, 265 04, Πάτρα
Τηλ: 2610969621, Φόρμα επικοινωνίας
Εικονίδιο Facebook Εικονίδιο Twitter Εικονίδιο Soundcloud