Εξώφυλλο από Amazon.com
Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memories Kanad Chakraborty Pinaki Mazumder
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΛεπτομέρειες δημοσίευσης: New Jersey Pearson Education 2002Περιγραφή: i-xix fig., tab; p. 426ISBN: - 0130084654
Ελλιπή περιεχόμενα:
Chapter 1 Reliability and Fault tolerance of Rams p. 1 Chapter 2 Diagnosis, repair, and reconfiguration p. 39 Chapter 3 Single-Event Effects and their Mitigation p. 115 Chapter 4 Error-Correcting Codes p. 217 Chapter 5 Yield Modeling and Prediction Techniques p. 277 Chapter 6 Physical Design of Built-in-self-repairable rams p. 321
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής | 1 | Διαθέσιμο |
bib. p.p. 377-417
index p.p. 419-426
Chapter 1 Reliability and Fault tolerance of Rams p. 1 Chapter 2 Diagnosis, repair, and reconfiguration p. 39 Chapter 3 Single-Event Effects and their Mitigation p. 115 Chapter 4 Error-Correcting Codes p. 217 Chapter 5 Yield Modeling and Prediction Techniques p. 277 Chapter 6 Physical Design of Built-in-self-repairable rams p. 321
