Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Σχεδίαση και αξιολόγηση ψευδοτυχαίων γεννητριών για μειωμένη κατανάλωση ισχύος κατά τον έλεγχο ορθής λειτουργίας Διπλωματική εργασία. Πανεπηστήμιο Πατρών. [Πολυτεχνική Σχολή] Τμήμα Μηχανικών Η/Υ & Πληροφορικής Χρήστος Λαουδιάς; Δημήτριος Νικολός επιβλέπων καθηγητής

Συντελεστής(ές): Τύπος υλικού: ΚείμενοΚείμενοΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Πάτρα Πανεπιστήμιο Πατρών. Τμήμα ΤΜΗΥΠ 2003Περιγραφή: 102σ. πιν.,σχημΘέμα(τα):
Ελλιπή περιεχόμενα:
Πίνακας Σχημάτων Πρόλογος 1. Ελεγχοι καθυστέρησης 1.1 Το πρόβλημα του εντοπισμού σφαλμάτων καθυστέρησης 1.2 Έλεγχος καθυστέρησης μονοπατιού 1.2.1 Παραδείγματα μη-ανθεκτικών ελέγχων 1.3 Παραγωγή ελέγχων για συνδυαστικά κυκλώματα 1.3.1 Παραγωγή ανθεκτικού ελέγχου 1.3.2 Παραγωγή μη-ανθεκτικού ελέγχου 1.3.3 Σφάλματα καθυστέρησης μονοπατιού που δεν εντοπίζονται 1.4 Μέτρηση των μονοπατιών ενός κυκλώματος 1.5 Πρακτικές πλευρές του έλεγχου καθυστέρησης 1.6 Έλεγχος με τη ταχύτητα του κυκλώματος (Αt - Speed testing) 1.7 Built -in Self Test (BIST) για σφάλματα καθυστέρησης 1.8 Διανύσματα δοκιμής που διαφέρουν σε ένα ακριβώς bit (Single Input Change - SIC patterns) 1.9 Συμπεράσματα 2. Ανάλυση γεννητριών SIC διανυσμάτων που βασίζονται στον LFSR 2.1 Γεννήτρια SIC ελέγχου για υψηλού επιπέδου BIST σύνθεση 2.2 Γεννήτρια παραγωγής ανθεκτικών ελέγχων για BIST αρχιτεκτονικής 2.3 Γεννήτρια παραγωγής ακολουθιών ελέγχου χαμηλής κατανάλωσης για περιβάλλον BIST 2.3.1 Ακολουθίες ελέγχου 2.3.2 Γεννήτρια παραγωγής RSIC ακολουθιών ελέγχου 2.4 Βελτιστοποιημένη γεννήτρια διανυσμάτων για τον έλεγχο σφαλμάτων καθυστέρησης σε περιβάλλον BIST 2.4.1 Βελτιστοποίηση της δομής του σχεδιασμού 2.5 Γεννήτρια παραγωγής διανυσμάτων για υψηλή κάλυψη σφαλμάτων σε περιβάλλον BIST 3. Ανάλυση γεννητριών SIC διανυσμάτων που βασίζονται σε μετρητή GRAY 3.1 Κώδικας GRAY και η παραγωγή του 3.2 Γεννήτρια με D flip - flop 3.3 Γεννήτρια με T flip - flop 3.4 Γεννήτρια με D flip - flop (2η έκδοση) 4. Σύγκριση της επιφάνειας (area) και της ταχύτητας των SIC γεννητριών 4.1 Σύγκριση ως προς την ταχύτητα λειτουργίας 4.2 Σύγκριση ως πρός την επιφάνεια 4.3 Συμπεράσματα 5. Κάλυψη σφαλμάτων των γεννητριών SIC διανυσμάτων 5.1 Τα ακαδημαϊκά κυκλώματα ISCAS85 και η εξομοίωση σφαλμάτων 5.2 Κάλυψη σφαλμάτων καθυστέρησης των γεννητριών SIC διανυσμάτων 5.3 Κάλυψη stuck - at σφαλμάτων των γεννητριών SIC διανυσμάτων 'Ελεγχος περισσότερων κυκλωμάτων χρησιμοποιώντας την ίδια γεννήτρια Παράρτημα Α Παράρτημα Β Παράρτημα Γ Βιβλιογραφία
Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου Τρέχουσα βιβλιοθήκη Ταξιθετικός αριθμός Αριθμός αντιτύπου Κατάσταση Ημερομηνία λήξης Ραβδοκώδικας
Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής 1 Διαθέσιμο

Βιβλιογραφία : σσ. 100 -102, Παραρτήματα : σσ. 89 -99

Πίνακας Σχημάτων Πρόλογος 1. Ελεγχοι καθυστέρησης 1.1 Το πρόβλημα του εντοπισμού σφαλμάτων καθυστέρησης 1.2 Έλεγχος καθυστέρησης μονοπατιού 1.2.1 Παραδείγματα μη-ανθεκτικών ελέγχων 1.3 Παραγωγή ελέγχων για συνδυαστικά κυκλώματα 1.3.1 Παραγωγή ανθεκτικού ελέγχου 1.3.2 Παραγωγή μη-ανθεκτικού ελέγχου 1.3.3 Σφάλματα καθυστέρησης μονοπατιού που δεν εντοπίζονται 1.4 Μέτρηση των μονοπατιών ενός κυκλώματος 1.5 Πρακτικές πλευρές του έλεγχου καθυστέρησης 1.6 Έλεγχος με τη ταχύτητα του κυκλώματος (Αt - Speed testing) 1.7 Built -in Self Test (BIST) για σφάλματα καθυστέρησης 1.8 Διανύσματα δοκιμής που διαφέρουν σε ένα ακριβώς bit (Single Input Change - SIC patterns) 1.9 Συμπεράσματα 2. Ανάλυση γεννητριών SIC διανυσμάτων που βασίζονται στον LFSR 2.1 Γεννήτρια SIC ελέγχου για υψηλού επιπέδου BIST σύνθεση 2.2 Γεννήτρια παραγωγής ανθεκτικών ελέγχων για BIST αρχιτεκτονικής 2.3 Γεννήτρια παραγωγής ακολουθιών ελέγχου χαμηλής κατανάλωσης για περιβάλλον BIST 2.3.1 Ακολουθίες ελέγχου 2.3.2 Γεννήτρια παραγωγής RSIC ακολουθιών ελέγχου 2.4 Βελτιστοποιημένη γεννήτρια διανυσμάτων για τον έλεγχο σφαλμάτων καθυστέρησης σε περιβάλλον BIST 2.4.1 Βελτιστοποίηση της δομής του σχεδιασμού 2.5 Γεννήτρια παραγωγής διανυσμάτων για υψηλή κάλυψη σφαλμάτων σε περιβάλλον BIST 3. Ανάλυση γεννητριών SIC διανυσμάτων που βασίζονται σε μετρητή GRAY 3.1 Κώδικας GRAY και η παραγωγή του 3.2 Γεννήτρια με D flip - flop 3.3 Γεννήτρια με T flip - flop 3.4 Γεννήτρια με D flip - flop (2η έκδοση) 4. Σύγκριση της επιφάνειας (area) και της ταχύτητας των SIC γεννητριών 4.1 Σύγκριση ως προς την ταχύτητα λειτουργίας 4.2 Σύγκριση ως πρός την επιφάνεια 4.3 Συμπεράσματα 5. Κάλυψη σφαλμάτων των γεννητριών SIC διανυσμάτων 5.1 Τα ακαδημαϊκά κυκλώματα ISCAS85 και η εξομοίωση σφαλμάτων 5.2 Κάλυψη σφαλμάτων καθυστέρησης των γεννητριών SIC διανυσμάτων 5.3 Κάλυψη stuck - at σφαλμάτων των γεννητριών SIC διανυσμάτων 'Ελεγχος περισσότερων κυκλωμάτων χρησιμοποιώντας την ίδια γεννήτρια Παράρτημα Α Παράρτημα Β Παράρτημα Γ Βιβλιογραφία

Πανεπιστήμιο Πατρών, Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης, 265 04, Πάτρα
Τηλ: 2610969621, Φόρμα επικοινωνίας
Εικονίδιο Facebook Εικονίδιο Twitter Εικονίδιο Soundcloud