Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing Debashis Bhattacharya, John P. Hayes authors

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston Kluwer Academic Publishers 1990Περιγραφή: x,159p.:figISBN:

Θέμα(τα):

Ταξινόμηση DDC:

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Συλλογή	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
Book [21]	ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.2	Non-fiction	621.395 BHA (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο		025000282484

Κοινοποίηση