Εξώφυλλο από Amazon.com
Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices / edited by Jay N. Zemel.
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΣειρά: NATO ASI series. Series B. Physics ; 46.Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York : Plenum Press, 1979.Περιγραφή: xi, 782 σ. : εικ. ; 26 εκISBN: - 0306402939
- 621.381 520 28 23
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [Not For Loan]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-no.png "Book [Not For Loan]")
Book [Not For Loan]
|
ΒΚΠ - Πατρα Πληροφοριακό Αναγνωστήριο | Π/Σ 621.381 520 28 ΝΑΤ (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Δε δανείζεται | 025000106532 |
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
