Accelerated testing statistical modes, test plans, and data analysis Wayne Nelson
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Wiley series in probability and mathematical statistics : Applied probability and statisticsΛεπτομέρειες δημοσίευσης: New York John Wiley and Sons 1990Περιγραφή: xiv, 601 p. ill. 25 cmΘέμα(τα): Ταξινόμηση DDC: - 519.5
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [21]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-yes.png "Book [21]")
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 519.5 NEL (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000076340 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 519.5 NEL (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000045092 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 519.5 NEL (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 3 | Διαθέσιμο | 025000040536 |
