Εξώφυλλο από Amazon.com
Applied Scanning Probe Methods III [electronic resource] Characterization edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs
Τύπος υλικού:
ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: NanoScience and TechnologyΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2006Περιγραφή: v.: digitalISBN: - 9783540269106
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource
|
ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |
