Εξώφυλλο από Amazon.com
Structural and chemical analysis of materials X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy J. P. Eberhart ; Translated by J. P. Eberhart; translated by J. P. Eberhart
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά, French Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Chichester John Wiley & Sons 1991Περιγραφή: xxx, 545 p. fig., tab. 24 cmISBN: - 0471950149
- 530.4
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [21]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-yes.png "Book [21]")
Book [21]
|
Φυσικό | 530.4 EBE (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000022331 | |
|
Book [21]
|
Χημείας | 530.4 E (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000080484 |
Browsing Χημείας shelves Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
Includes appendix, references and index
