Fast electrical and optical measurements / edited by James E. Thompson, Lawrence H. Luessen ; editorial committee, Anthony K. Hyder ... [et al.].
Τύπος υλικού: ΚείμενοΣειρά: NATO ASI series. Series E, Applied sciences ; 108-109.Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Dordrecht ; Boston : Martinus Nijhoff, 1986.Περιγραφή: 2 τ. (x, 1060, vii σ.) : εικ. ; 25 εκISBN:- 9024732964
- 9024732948
- 9024732956
- 621.37 23
Περιεχόμενα:
τ. 1. Current and voltage measurements -- τ. 2. Optical measurements.
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|
Book [Not For Loan] | ΒΚΠ - Πατρα Πληροφοριακό Αναγνωστήριο | Π/Σ 621.37 ΝΑΤ (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Δε δανείζεται | 025000100331 | |
Book [Not For Loan] | ΒΚΠ - Πατρα Πληροφοριακό Αναγνωστήριο | Π/Σ 621.37 NAT (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Δε δανείζεται | 025000100330 |
"Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Fast Electrical and Optical Diagnostic Principles and Techniques, Il Ciocco, Castelvecchio Pascoli, Italy, July 10-24, 1983"--T.p. verso.
τ. 1. - x, 593 σ. -- τ. 2. - x, 595-1060 σ.
Περιλαμβάνει βιβλιογραφία και ευρετήριο.
τ. 1. Current and voltage measurements -- τ. 2. Optical measurements.