Η αναζήτηση επέστρεψε 2 αποτελέσματα.

Αποτελέσματα
	1.	VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen. από Wang, Laung-Terng [επιμελητής.] Wu, Cheng-Wen [επιμελητής.] Wen, Xiaoqing [επιμελητής.] Σειρά: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon Τύπος υλικού: Κείμενο; Διάταξη: έντυπο ; Λογοτεχνικό είδος: Μη λογοτεχνικό Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006 Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (12)Ταξιθετικός αριθμός: 621.395 VLS, ... Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	2.	VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen. από Wang, Laung-Terng [επιμελητής.] Wu, Cheng-Wen [επιμελητής.] Wen, Xiaoqing [επιμελητής.] Τύπος υλικού: Κείμενο; Διάταξη: έντυπο ; Λογοτεχνικό είδος: Μη λογοτεχνικό Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006 Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Αγρίνιο (1)Ταξιθετικός αριθμός: 621.395 VLS. Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)

Πανεπιστήμιο Πατρών, Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης, 265 04, Πάτρα
Τηλ: 2610969621, Φόρμα επικοινωνίας