Point defects in semiconductors II experimental aspects J. Bourgoin, M. Lannoo; with a foreword by G.D. Watkins

Κατά:

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Springer series in solid state sciences ; 35Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Berlin Springer-Verlag 1983Περιγραφή: xvi, 295 p. fig. 24 cmISBN:

Θέμα(τα):

Ταξινόμηση DDC:

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
Book [21]	ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή	537.622 6 BOU (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο		025000241210
Book [21]	Φυσικό	537.622 6 B (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	2	Διαθέσιμο

Includes bibliographic references and index

Κοινοποίηση