Electron beam testing technology

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Microdevices Physics and Fabrication Technologies / Ivor Brodie and Julius J. MurayΛεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Plenum Press c1993Περιγραφή: xvi,462p. figISBN:

Θέμα(τα):

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Συλλογή	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
Book [21]	ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10	Non-fiction	621.381 5 THO (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο		025000283445

βιβλιογραφια ανα κεφάλαιο ΕΠΕΑΕΚ/ΙΤΥ

Κοινοποίηση