Testing and testable design of high-density random-access memories / by Pinaki Mazumder and Kanad Chakraborty.
Τύπος υλικού: ΚείμενοΣειρά: Frontiers in electronic testingΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, Mass : Kluwer Academic, 1996.Περιγραφή: xxxviii, 386 σ. : εικ. ; 25 εκISBN:- 0792397827
- 621.397 32 23
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | Non-fiction | 621.397 32 MAZ (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281789 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Βασική Συλλογή, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
621.395 SYS System-on-chip test architectures : | 621.395 VLS VLSI test principles and architectures : | 621.395 VLS VLSI test principles and architectures : | 621.397 32 MAZ Testing and testable design of high-density random-access memories / | 629.831 2 AKA Statistical analysis and control of dynamic systems / | 650.015 13 MIZ Finite mathematics with applications for business and social sciences / | 658.403 52 PFL Optimization of stochastic models : |
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.