The changing philosophy of test International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990

Κατά:

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Los Alamitos IEEE Computer Society Press c1990Περιγραφή: xvi, 1083p. figISBN:

Θέμα(τα):

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
	Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής	621.381 548 (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο

Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές

Κοινοποίηση