The state of the Art:from device testing to reconfigurable systems. FTC/3 International symposium on Fault-Tolerant Computing Palo Alto, CA, June 20-23, 1973
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York IEEE Computer Society Press c1973Περιγραφή: v, 182p. figΘέμα(τα):
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής | 004.2 (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο |
Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές
