Εξώφυλλο από Amazon.com
Advanced Test Methods for SRAMs [electronic resource] Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies by Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
Τύπος υλικού:
ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer-Verlag US 2010Έκδοση: 1Περιγραφή: v.: digitalISBN: - 9781441909381
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource
|
ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |
