Εξώφυλλο από Amazon.com
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars [electronic resource] Papers in Honour of John P. Keeves edited by Rupert Maclean, Ryo Watanabe, Robyn Baker, Boediono, Yin Cheong Cheng, Wendy Duncan, John Keeves, Zhou Mansheng, Colin Power, J. S. Rajput, Konai Helu Thaman, Sivakumar Alagumalai, David D. Curtis, Njora Hungi
Τύπος υλικού:
ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects ; 4Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Dordrecht Springer 2005Περιγραφή: v.: digitalISBN: - 9781402030765
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource
|
ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |
