Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Abramovici, Miron

Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breumer. Arthur D. Friedman. - Rev. print. - New York : IEEE, c1990. - 651 σ. : εικ. ; 23 εκ.

Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.

ISBN: 0780310624

Subjects--Topical Terms:
Ψηφιακά ηλεκτρονικά

Dewey Class. No.: 621.395