Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.] - 3rd ed. - New York : Springer, c2003. - xix, 689 σ. : εικ. (μερ. έγχρ.) ; 26 εκ. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.)

Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.

ISBN: 0306472929

Subjects--Topical Terms:
Μικροσκόπια
Ακτίνες Χ

Dewey Class. No.: 502.825